Ultra Nano Indenteur (0.025 - 50 mN)
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Une nouvelle génération de nanoindenteurCSM Instruments vient d’introduire sur le marché un nouveau nanoindenteur haute résolution à dérive thermique ultra faible. Lorsque cet équipement est utilisé selon la norme ISO 14577, l’Ultra Nano Hardness Testeur UNHT délivre les données les plus précises de tous les instruments commercialisés à ce jour.
Le principe de fonctionnement de ce nouvel instrument repose sur l’utilisation de deux axes, l’un pour la mesure, l’autre pour la référence de surface, disposant chacun de son propre actuateur piézoélectrique et de son propre capteur de force. Un capteur capacitif mesure le déplacement relatif de l’indenteur par rapport à la référence. Il est donc désormais possible d’effectuer une référence active de surface.
La technique d’indentation instrumentée permet en continu de mesurer la force normale appliquée en fonction du déplacement dans le matériau. Cette méthode est largement utilisée pour évaluer les propriétés mécaniques des matériaux à l’échelle nanométrique, en particulier la dureté et le module d’élasticité. Certaines applications requièrent des gammes de profondeurs (quelques nanomètres) ou de force (quelques micromètres) très petites. A ces échelles, les effets de la dérive thermique sur la mesure peuvent être conséquents et la méthode consistant à soustraire de la courbe expérimentale la dérive thermique résiduelle devient imprécise. Le principe de mesure par référence de surface devient la seule alternative qui garantisse, sans correction approximative, la délivrance de résultats exacts dans un laps de temps raisonnable.
Poster technique sur l’UNHT à télécharger.
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Spécificités:
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Principe de référence active de surface (breveté)
La référence est amovible et peut être de différentes formes. La référence dispose de son propre actuateur et capteur de force, ce qui permet l’application d’une force normale ajustable par le biais d’une boucle d’asservissement électronique.
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Equipement avec dérive thermique quasi nul
La structure de la tête est en verre Zerodur ® et le système électronique présente un taux de dérive à ~ 1 ppm/°C.
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Raideur de bâti très élevée
Grâce au choix d’un bâti en marbre synthétique et du principe de référence de surface
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Deux capteurs de force indépendants et un capteur de déplacement différentiel
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Haute résolution et niveau de bruit très faible
> Résolution en profondeur 0.001 nm – niveau de bruit ~ 0.1 nm
> Résolution en force 0.01 uN – niveau de bruit ~ 0.5 uN -
Synchronisation parfaite en position
la tête UNHT est synchronisée en position avec un microscope optique et/ou un AFM. Le couplage de ces microscopes avec un nanoindenteur permet d’indenter des zones très précises et d’en fournir une image tridimensionnelle à l’échelle nanométrique
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Conforme aux normes ISO 14577 et ASTM E2546
CSM Instruments développe et commercialise des instruments en conformité avec les recommandations des systèmes normatifs ISO et ASTM.
Options :
- Vide et caisson environnemental
- Chambre acoustique
- Microscope à force atomique AFM
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