Microscopio a forza atomica (AFM)

La microscopia a forza atomica (AFM), o a scansione di sonda (SPM), è una tecnica estremamente accurata e versatile per misurare la topografia di una superficie o le forze superficiali. Una punta molto sottile, montata alla fine di una piccola molla, o cantilever, viene pontata in contatto con la superficie del campione che si vuole studiare. La punta viene mossa lungo numerose linee di scansione, producendo un'immagine tridimensionale con risoluzione ultra-alta. Questa tecnica è particolarmente utile per ottenere immagini graffi residui, indentazioni o altre caratteristiche della superficie a scala nanometrica e per misurarne accuratamente le dimensioni.

Caratteristiche

• La combinazione di un microscopio ottico con uno a scansione di sonda (SPM) apre nuove possibilità di analisi quantitativa delle superfici;
• L'ispezione ottica di vaste aree del campione con la possibilità di zoomare sulle strutture interessanti con risoluzione sub-nanometrica;
• L'analisi di micro o nano strutture;
• Misure di dimensione critica;
• Lo studio di strutture incise chimicamente e della rugosità;
• Analisi di profilo di rivestimenti e film sottili;
• Misure di superfici con basso contrasto ottico;
• Caratterizzazione di fragili tessuti biologici così come molte altre applicazioni nella scienza dei materiali e delle superfici.

Opzioni

• Funzionamento in modalità a non contatto
• Microscopia a forza laterale
• Microscopia a forza magnetica
• Modalità a forza impulsata
• Microscopia a forza elettrostatica
• Microscopia termica a scansione di sonda
• Microscopia a forza conduttiva

Cella per immagini in liquidi